儀器型號：JT14A

測量行程：200x150mm

用途：芯片的線路板對比測量，

客戶產(chǎn)品主要為短波紅外銦鎵砷探測器、相機，廣泛應用于場地監(jiān)控、糧食色選、駕駛視覺增強、防偽安檢、光伏芯片檢測、硅基半導體材料與工藝檢測、醫(yī)療影像、森林防火、文物鑒定等諸多領域。 

中國科學院上海技術物理研究所（簡稱上海技物所）創(chuàng)建于1958年10月，是集基礎研究、工程技術研發(fā)和高新技術產(chǎn)業(yè)化為一體的綜合型研究機構(gòu)。上海技物所以紅外物理與光電技術研究為定位，以紅外光電新材料、新器件、新方法等作為主要研究方向，重點發(fā)展先進的航空航天有效載荷、紅外凝視成像及信號處理、紅外焦平面及遙感信息處理等技術。

　　上海技物所著眼于國家重大戰(zhàn)略需求，針對相關技術領域的特點，已形成具有自身特色的、覆蓋“基礎前沿—核心組部件—系統(tǒng)集成”完整研發(fā)體系。設有研究室13個，建有紅外物理國家重點實驗室、傳感技術聯(lián)合國家重點實驗室（光傳感器專業(yè)點）、中科院紅外成像材料與器件重點實驗室、中科院紅外探測與成像技術重點實驗室、中科院空間主動光電技術重點實驗室、中科院智能紅外感知重點實驗室以及省部共建現(xiàn)場物證光學探測技術聯(lián)合實驗室。