130小型瑕病測量儀
產(chǎn)品內(nèi)容
小型超光滑表面疵病數(shù)字化檢測儀
本系列產(chǎn)品是目前國內(nèi)外首創(chuàng)的可對各種光滑光學(xué)元件和金屬表面疵病實現(xiàn)快速、自動化、微米量級分辨率檢測的數(shù)字化設(shè)備,能夠有效解決目視檢測效率低、準(zhǔn)確性差的難題。可應(yīng)用于光學(xué)元件、激光器諧振腔、微光元件、光滑金屬、硅片、液晶屏、手機外殼、微縮文字等各類元件表面疵病的檢測??蓹z測表面疵病的類型包括各種劃痕、麻點、污漬、破邊等。通過采用不同行程范圍的掃描裝置,可實現(xiàn)不同大小樣品的檢測,被檢元件口徑最大可達(dá)1000mm×600mm或更大。本系統(tǒng)擁有多項國家發(fā)明專利。
系列產(chǎn)品主要技術(shù)指標(biāo):
1)檢測樣品最大口徑:(130mm×130mm)~(1000mm×600mm);
2)瑕疵分辨率:優(yōu)于0.5um;
3)檢測的疵病幾何特征:各種劃痕、麻點、破邊等、文字缺損校驗;
4)被檢樣品可水平、垂直放置掃描檢測;
5)軟件及結(jié)果輸出:配備“超光滑表面疵病數(shù)字化評價系統(tǒng)”軟件,可輸出包含表面 瑕疵定位、定量信息的電子報表;
6)照明及成像系統(tǒng):特制的無盲點照明系統(tǒng)配備顯微散射暗場成像技術(shù);
7) 評價標(biāo)準(zhǔn):
·國際標(biāo)準(zhǔn) ISO10110-7
·美國軍標(biāo) MIL-PRF-13830B
·同時可以根據(jù)客戶要求,對不同的樣品(光學(xué)元件表面、金屬元件表面)瑕疵(劃 痕、麻點、污漬等)的檢出要求進行圖像處理軟件的研發(fā);
8)評價方法:采用獲得國家發(fā)明專利的定量評估方法;
9)對有特殊潔凈要求的檢測配備有專業(yè)的凈化臺;
10)表面瑕疵質(zhì)量檢測應(yīng)用范圍:
130 型(適合于中小口徑檢測)
·各種精密光學(xué)元件、激光器諧振腔表面瑕疵;
·金屬元件表面瑕疵;
·手機屏表面瑕疵。
450 型、1000 型(可用于大口徑檢測)
·大口徑光學(xué)平板表面瑕疵;
·大口徑硅片表面瑕疵;
·各類液晶屏、顯示屏的表面瑕疵。